時(shí)代覆層測(cè)厚儀的介紹

現(xiàn)實(shí)生活中對(duì)材料覆蓋層的測(cè)量，已逐漸引入微機(jī)技術(shù)，采用磁性法和渦流法的時(shí)代覆層測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化發(fā)展。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%。時(shí)代覆層測(cè)厚儀適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用*廣泛的測(cè)厚儀器。而且是無(wú)損測(cè)量，既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。其基本原理是結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測(cè)物吸合后，將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng)，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。

X射線(xiàn)和β射線(xiàn)法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小。因有放射源，時(shí)代覆層測(cè)厚儀使用者必須遵守射線(xiàn)防護(hù)規(guī)范。X射線(xiàn)法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線(xiàn)法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。

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